TY - JOUR ID - TI - Surface Structure for Silicon Nanoparticles التركيب السطحي لجسيمات السيكون النانوية AU - M.A.Shahooth محمد عبد شاحوذ AU - H.S.AL-Jumaili AU - M.S.Omar مصطفى سعيد عمر PY - 2018 VL - 12 IS - 2 SP - 43 EP - 48 JO - Journal of university of Anbar for Pure science مجلة جامعة الانبار للعلوم الصرفة SN - 19918941 27066703 AB - A model depend on ratio number atoms of the Surface to the internal atoms used to calculate the mean bonding length (dmean(r)) of silicon nanoparticles with radius (r) in the range of (1.2nm ≤ r ≤ 10nm). The results compared with the (dmean(r)) which measured from high resolution transmission electron microscope (HRTEM) in the range of (r), using AUTO CAD software for measuring nanoparticle radius and the spacing between adjacent fringes that correspond to dhkl – spacing. The results obtained that the theoretical model is in good agreement with the experiment for all (r) range. The lattice parameter (dmean(r)) are found to increases from (0.235nm) for bulk Si up to (0.262nm) for nanoparticles having a size down to 3nm, then it is increased sharply at about the critical radius of silicon nanoparticle (r = 1nm), which related to the atomic surface behavior.

صمم برنامج لحساب نسبة عدد ذرات السطح الى عدد الذرات الداخلية لحساب معدل طول الاصرة لجسيمات السياكون النانوية لمدى نصف قطر بين ( nm10 -1.2). ومقارنة النتائج المستحصلة مع نتائج معدل طول الاصرة المحسوب من القيم التجريبية للمسافة البينية المأخوذ مباشرة من فحص المجهر الالكتروني علي التحليل HRTEM)) بإستخدام برنامج حاسوبي نوع (AUTO CAD) لقياس نصف قطر الحبيبة والمسافة بين الاهداب المتعاقبة لتعطي قيمة .dhklالنتائج اظهرت بأن البرنامج النظري يتطابق مع العملي بشكل جيد ولجميع قيم نصف القطر (r). ان قيم معدل طول الاصرة يزداد من(0.235nm) للسيكون السميك تصل الى (0.262nm) ان قيم معدل طول الاصرة يزداد مع نقصان نصف القطر بشكل تدريجي والى قيمة (r = 3nm) حيث الزيادة تكون حادة ولقيمة نصف القطر الحرج للسيليكون النانوي (r=1nm) والتي تعود الى سلوك ذرات السطح ER -