@Article{, title={Preparation CdSe thin films by vacuum thermal evaporation and studying the effect of annealing time on structural, electrical and optical properties. تحضير الغشاء الرّقيق CdSe بطريقة التّبخير الحراري بالفراغ ،ودراسة خواصه البصرية والكهربائية والتّركيبية}, author={Hanan Ridha حنان رضا and Kawkab D. Salim , كوكب داود سالم ،}, journal={Tikrit Journal of Pure Science مجلة تكريت للعلوم الصرفة}, volume={26}, number={2}, pages={88-93}, year={2021}, abstract={CdSe thin films were deposited on a glass substrate by using vacuum thermal evaporation technique. The deposited films were annealed to 350˚C for (10, 20, 30) minutes respectively. Structural, morphological, optical and electrical properties of the films were studied by using X-ray diffraction (XRD), ultraviolet-visible (UV-Vis) spectroscopy; and Atomic force microscope (AFM). The X-ray diffraction pattern showed that the film has a cubic phase with preferred orientation (111), the grain size was found to be in the range of( 31-46)nm. The UV tests explain that the energy bandgap decrease with increasing of annealing time from 2.43eV to 2.17eV after 20minute annealed

تمّ في هذا البحث ترسيب أغشيةٍ رقيقةٍ من مادة سيلينايد الكادميوم ((CdSe على قواعد زجاجيّةٍ باستخدام تقنية التّبخير الحراري بالفراغ. وتمّ تلدين هذه الأغشية الرّقيقة إلى درجة حرارة (350 ͦC) لمدّة (10,20,30 minutes) على التّوالي. ولقد دُرِسَتْ الخصائص التّركيبيّة ،والمورفولوجيّة، والبصريّة والكهربائيّة للأغشيىة بواسطة حيود الأشعة السّينية (XRD)، والتّحليل الطّيفي (المرئي- الفوق بنفسجي)، ومجهر القوّة الذّريّة ( AFM) على التّرتيب. حيث أظهر نمط حيود الأشعة السّينيّة أنّ الأغشية لها طورٌ مكعبيّ وذات اتجاهية ((111، كما أنّ حجم الحُبَيبات كان في حدودnm (31-46). امّا اختبارات الأشعة فوق البنفسجية فقد أوضحت أنّ هناك تناقصًا في قيمة فجوة الطّاقة مع زيادةِ وقت التّلدين من (2.43eV) إلى 2.17eV)) بعد عشرين دقيقة من التّلدين.} }