TY - JOUR ID - TI - Effect of Temperature on Reliability and Degradation of 0.63μm Laser Diode تأثير الحرارة على الموثوقية والتقادم الثنائي ليزر 0,63مايكروميتر AU - Saman Q. Mawlud سامان قادر مولود PY - 2012 VL - 9 IS - 1 SP - 141 EP - 147 JO - Baghdad Science Journal مجلة بغداد للعلوم SN - 20788665 24117986 AB - The reliability of optical sources is strongly dependent on the degradation and device characteristics are critically dependent on temperature. The degradation behaviours and reliability test results for the laser diode device (Sony-DL3148-025) will be presented .These devices are usually highly reliable. The degradation behaviour was exhibited in several aging tests, and device lifetimes were then estimated. The temperature dependence of 0.63μm lasers was studied. An aging test with constant light power operation of 5mW was carried out at 10, 25, 50 and 70°C for 100hours. Lifetimes of the optical sources have greatly improved, and these optical sources can be applied to various types of transmission systems. Within this degradation range, the device life for system application is estimated to be more than 100 h at 70 ºC at a constant power of 5mW.

إنّ الموثوقيةَ في المصادر الضوئية تعتمد بشكل كبير على التقادم و إنّ خصائص ثنائي الليزر تعتمد بشكل حرج على درجةِ الحرارة. تمت دراسة نَتائِجَ إختبار سلوكيات التقادم و الموثوقية لثنائي الليزر (Sony-DL3148-025), وتبين بأن هذه الليزرات تكون عادة ذات موثوقية عالية, وسلوك التقادم قد تم تعرضه في عِدّة إختبارات عمرية، وتم من خلالها تقدير العمر الزمني لهذه الثنائيات، وأجريت دراسة إعتمادية الليزر دايود ذات الطول الموجي 0.63 مايكروميتر على درجة الحرارة. تم أجراء الاختبار العمري لقدرة ضوئية ثابتة 5 ملي واط عند درجات حرارة مختلفة 10و25و50و70 م° و لمدة 100 ساعة. فقد تم تحسن العمر الزمني لهذه المصادر الضوئية بشكل, ويُمْكِنُ لهذه المصادرِ الضوئية تطبيقها في الأنواعِ المُخْتَلِفةِ مِنْ أنظمةِ الإرسال. وضمن هذا المدى من التقادم فقد تم تقدير العمر الزمني لهذه الليزرات فوجد أنه أكثر من 100 ساعة عند درجة حرارة 70 م° وعند قدرة ثابتة مقدارها 5 ملي واط. ER -