@Article{, title={A Study of structural and electrical properties ofCuIn (Sex Te1-x) 2 thin films دراسـة الخواص التركيبية والكهربائية لاغشية الرقيقة CuIn (Sex Te1-x)2}, author={Sabah Noori mazher صباح نوري مزهر}, journal={Baghdad Science Journal مجلة بغداد للعلوم}, volume={6}, number={1}, pages={73-85}, year={2009}, abstract={In this research, resistivity of CuIn (Sex Tel-x)2 thin films prepared by thermal evaporation of thickness (250+25nm) , was measured in an electrical measurement system in the temperature ranges ( 293oK - 423oK). Resistivity of the samples was also measured after annealing for one hour in vacuum for two temperatures ( 373oK and 423oK) . Activation energies of these films were calculated before and after annealing, type of majority charge carrier was known by (Hall effect) and concentration of charge carrier and its mobility before and after annealing was also calculated.

تم في هذا البحث قياس المقاومية (Resistivity) لاغشية 2 CuIn (Sex Te1-x) الرقيقة . حضرت العينات باستخدام طريقة التبخير الحراري ((Vacuum thermal evaporation بسمك قدرة (250+25nm) للعينات في منظومة كهربائية ذات مدى حراري (293oK) الى(423oK) ، كما تم قياس المقاومية لنفس الاغشية المحضرة بعد تلدينها (Annealing) عند درجات الحرارة (373oK) و(423oK) لمدة ساعة بوجود الفراغ . تم حساب طاقات التنشيط لهذا الاغشية قبل التلدين وبعده .وتم معرفة نوع حاملات الشحنة الاغلبية من خلال اجراء تجربة هول ( Hall effect ) ومن ثم حساب تركيز حاملات الشحنة وتحركيتها قبل التلدين وبعده.} }