Fulltext

The Effect of Laser Wavelength on Porous Silicon Formation Mechanisms

تأثير الطولِ الموجي لليزرِ على آليات التكوينِ للسليكونِ المسامي

Narges Zamil Abdulzahra نرجس زامل عبد الزهره

AL-NAHRAIN JOURNAL FOR ENGINEERING SCIENCES مجلة النهرين للعلوم الهندسية
ISSN: 25219154 / eISSN 25219162 Year: 2011 Volume: 14 Issue: 1 Pages: 97-101
Publisher: Al-Nahrain University جامعة النهرين

Abstract

In this work, the effects of coherent radiation (Laser) with different wavelength and photon energy during the electrochemical etching process on the structural characteristics PS samples were investigated. The porosity values were measured by depending on the microstructure analyses and gravimetric measurements. Surface morphology, layer thickness, pore diameter, pore shape, wall thickness and etching rate were studied by depending on Scanning electron-microscopic (SEM) images

في هذا البحث تم دراسة تأثير الإشعاع المتشاكه (الليزر) بأطوال موجية وطاقة فوتونية مختلفة خلال عملية القشط الكهروكيميائي على الخصائص التركيبية للسليكون المسامي. ان قيم المسامية تم قياسها بالاعتماد على التحاليل التركيبية الدقيقة وبالطريقة الوزنية. طبوغرافية السطح، سمك الطبقة، قطر الفجوة، شكل الفجوة، وسمك طبقة الجدار بين الفجوات وكذلك معدل القشط تم قياسها بالاعتماد على تحليل صور المجهر الالكتروني الماسح

Keywords

Porous Silicon --- Illumination --- SEM Images.