research centers


Search results: Found 2

Listing 1 - 2 of 2
Sort by

Article
The Effect of Laser Wavelength on Porous Silicon Formation Mechanisms
تأثير الطولِ الموجي لليزرِ على آليات التكوينِ للسليكونِ المسامي

Author: Narges Zamil Abdulzahra نرجس زامل عبد الزهره
Journal: AL-NAHRAIN JOURNAL FOR ENGINEERING SCIENCES مجلة النهرين للعلوم الهندسية ISSN: 25219154 / eISSN 25219162 Year: 2011 Volume: 14 Issue: 1 Pages: 97-101
Publisher: Al-Nahrain University جامعة النهرين

Loading...
Loading...
Abstract

In this work, the effects of coherent radiation (Laser) with different wavelength and photon energy during the electrochemical etching process on the structural characteristics PS samples were investigated. The porosity values were measured by depending on the microstructure analyses and gravimetric measurements. Surface morphology, layer thickness, pore diameter, pore shape, wall thickness and etching rate were studied by depending on Scanning electron-microscopic (SEM) images

في هذا البحث تم دراسة تأثير الإشعاع المتشاكه (الليزر) بأطوال موجية وطاقة فوتونية مختلفة خلال عملية القشط الكهروكيميائي على الخصائص التركيبية للسليكون المسامي. ان قيم المسامية تم قياسها بالاعتماد على التحاليل التركيبية الدقيقة وبالطريقة الوزنية. طبوغرافية السطح، سمك الطبقة، قطر الفجوة، شكل الفجوة، وسمك طبقة الجدار بين الفجوات وكذلك معدل القشط تم قياسها بالاعتماد على تحليل صور المجهر الالكتروني الماسح


Article
The Structure and Electrical Properties of Porous Silicon Prepared by Electrochemical Etching
الخصائص التركيبية و الكهربائية للسليكون المسامي المحضر بطريقة القشط الكهروكيميائي

Author: Narges Zamil Abdulzahra نرجس زامل عبد الزهرة
Journal: Iraqi Journal of Physics المجلة العراقية للفيزياء ISSN: 20704003 Year: 2011 Volume: 9 Issue: 15 Pages: 94-101
Publisher: Baghdad University جامعة بغداد

Loading...
Loading...
Abstract

Porous silicon was prepared by using electrochemical etching process. The structure, electrical, and photoelectrical properties had been performed. Scanning Electron Microscope (SEM) observations of porous silicon layers were obtained before and after rapid thermal oxidation process. The rapid thermal oxidation process did not modify the morphology of porous layers. The unique observation was the pore size decreased after oxidation; pore number and shape were conserved. The wall size which separated between pore was increased after oxidation and that effected on charge transport mechanism of PS.

في هذا العمل ، تم تحضير السليكون المسامي باستخدام طريقة القشط الكهروكيميائي. الخصائص التركيبية،الكهربائية والخصائص الكهروضوئية تم انجازها. ملاحظات المجهر الالكتروني الماسح لطبقة السليكون المسامي تم الحصول عليها قبل وبعد عملية الأكسدة الحرارية السريعة. عملية الأكسدة الحرارية السريعة لاتحور طبوغرافية طبقة السليكون المسامي . الملاحظة الوحيدة كانت حجم المسام يقل بعد عملية الأكسدة. بالإضافة إلى ذلك ,كثافة المسام بقية محفوظة. حجم الجدار الذي يفصل بين المسام ازداد بعد عملية الأكسدة وهذا اثر على ميكانيكية انتقال الشحنة للسليكون المسامي .

Listing 1 - 2 of 2
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (2)


Language

Arabic and English (1)

English (1)


Year
From To Submit

2011 (2)