research centers


Search results: Found 2

Listing 1 - 2 of 2
Sort by

Article
Doping Effect on the Structural Properties of Zno: Al2O3 Thin Films by Pulsed Laser Deposition

Authors: Adawiya J.Haidar --- Nadir F. Habubi --- Ali A. Yousif
Journal: Al-Nahrain Journal of Science مجلة النهرين للعلوم ISSN: (print)26635453,(online)26635461 Year: 2011 Volume: 14 Issue: 4 Pages: 73-80
Publisher: Al-Nahrain University جامعة النهرين

Loading...
Loading...
Abstract

Polycrystalline Alumina-doped Zinc Oxide (AZO) thin films on glass substrates have been deposited by pulsed laser deposition technique using pulsed Nd-YAG laser with wavelength (λ= 532 nm) and duration (7ns). The structural properties of these films were characterized as a function of Al2O3 content (1 w.t%, 3 w.t% and 5 w.t %) in the target at substrate temperatures (200°C and 400°C) and energy fluence (0.4 J/cm2). The X-ray diffraction patterns and scanning electron microscopy (SEM) for the films showed that the undoped and Al2O3-doped ZnO films exhibit hexagonal wurtzite crystal structure and high polycrystalline quality with a preferred orientation along (100) plane. The grain size increases as the Al2O3 concentration increases to 85.6 nm. The surface morphology of the films obtained by scanning electron microscopy reveals that presence of Al2O3 content in the structure did affect the surface morphology of the films significantly.

في هذا البحث، تم ترسيب أغشية اوكسيد الزنك المشوب بالالومينا ((AZO ذو تركيب متعدد البلورات، تم ترسيبها على قواعد من الزجاج باستخدام تقنية ترسيب بالليزر النبضي، حيث استخدام ليزر النيديميوم- ياك عند الطول الموجي (532 نانومتر) وآمد نبضة ( 7 نانو ثانية). تم دراسة الخصائص التركيبية كدالة لتركيز الالومينا بنسب (% 1 ,% 3 و % 5) في الهدف عند درجة حرارة القاعدة (200°C and 400°C) وكثافة طاقة الليزر الساقطة (0.4 J/cm2). اظهرت نتأئج حيود الاشعة السينية وفحص المجهر الالكتروني (SEM) بالنسبة للاغشية الغير المشوبه والمشوبه بأنها ذات تركيب سداسي متعدد التبلور وباتجاه مفضل غلى طول المستوي (100). ان حجم الحبيبات يزداد بزيادة تركيز الالومينا الى (85.6 نانومتر). ان التركيب السطحي الذي حصلنا عليه من فحص المجهر الالكتروني بالنسبة للاغشية المشوب الالومينا كان له تأثير على تركيب الاغشية بشكل واضح.


Article
Nanostructure Dopants TiO2 Films for Gas Sensing

Authors: A.J. Haider --- R.M.S. Alhaddad --- K.Z. Yahya
Journal: Iraqi Journal of Applied Physics المجلة العراقية للفيزياء التطبيقية ISSN: 18132065 23091673 Year: 2011 Volume: 7 Issue: 2 Pages: 27-31
Publisher: iraqi society for alternative and renewable energy sources and techniques الجمعية العراقية لمصادر وتقنيات الطاقة البديلة والمستجدة

Loading...
Loading...
Abstract

Nanostructure TiO2 doped with noble metals such as (Ag, Pt, Pd, Ni) thin films were prepared by Pulsed Laser Deposition (PLD) on SiO2 and Si (111) substrates. The thin films structures were determined by X-ray Diffraction (XRD). XRD pattern shows an increase in the average size of the crystalline grains with the range (11.6-25) nm in the all film samples. The morphology properties were determined from Atomic Force Microscopy (AFM), which shows that the grain size of the nanoparticles observed at the surface depend on the type of metal dopant.TiO2 doped with 3 % Pt metal has the smallest grain size of (11.6nm ) and RMS roughness values of (28 nm). The produced thin films in this study have been exposed to 50 ppm CO gas concentration.TiO2 doped with noble metal has sensitivity of higher than pure TiO2 .TiO2 doped with Pt metal deposited on Si (111) has 23 % maximum sensitivity to CO gas with optimum operation temperature of 250°C.

Listing 1 - 2 of 2
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (2)


Language

English (2)


Year
From To Submit

2011 (2)