research centers


Search results: Found 5

Listing 1 - 5 of 5
Sort by

Article
Optical and Structure Properties of MgxZn1-xO Thin Films by Pulsed Laser Deposition
دراسة الخصائصالبصریة و التركیبیة لاغشیة MgxZn1-xO بالترسیب بالليزر

Authors: Gehan E. Simon --- Adawiya J. Haidar
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2009 Volume: 27 Issue: 14 Pages: 2653-2665
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

In this study, the optical and structure properties of MgxZn1-xO thin films is reported. The MgxZn1-xO thin films were prepared on Glass substrates by Q-switch second harmonic Nd:YAG laser deposition technigue with wavelength of 532nm from a ZnO target mixed with Mg of (0-0.3) wt% , and the films deposited at temperature (250°C).The optical properties were characterized by transmittance and absorption spectroscopy measurements. For all the films the average transmission in the U.V (200-900) nm wavelength region was over 85% and the absorption edge shifted to a shorter wavelength as the magnesium concentration increased. The optical energy gap of MgxZn1-xO thin films, measured from transmittance spectra could be controlled between (3.3eV and 4.2eV) by adjusting magnesium concentration. X-ray diffraction was used to investigate the structure of the film. The refractive index of hexagonal MgxZn1-xO thin films decreases with the Mg concentration increase, such as at the wavelength of (500nm) the refractive index decreases from 1.93 to 1.85 as x increase from 0.15 to 0.3. The extinction coefficient and the complex dielectric constant were also investigate.


Article
Effect of Alumina-Doping on Structural and Optical Properties of Zno Thin Films by Pulsed Laser Deposition
تاثير الالمنيوم المشوب على الخصائص التركيبية والبصرية للغشاء الرقيق ZnO بواسطة الترسيب بالليزر (PLD)

Authors: Ali A. Yousif --- Nadir F. Habubi --- Adawiya J.Haidar
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2010 Volume: 28 Issue: 14 Pages: 4677-4686
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

Alumina-doped Zinc Oxide (AZO) thin films on quarts glass substrateshave been deposited by pulsed laser deposition technique using a pulsed Nd-YAG laser with the wavelength of (ë= 532 nm) and duration (7ns).The structural and optical properties of these films were characterized as a function of Al2O3 content (0-5w.t%)in the target at substrate temperatures (400°C) and energy fluence (0.4 J/cm2). The X-ray diffraction patterns of the films showed that the undoped and Al2O3 -doped ZnO films exhibit wurtzite crystal structure and high crystalline quality. The optical properties were characterized bytransmittance, absorption spectroscopy measurements. For all films the average transmission in the wavelength range (330-900) nm was over 90% and the absorption edge shifted toward a shorter wavelength as Al2O3 concentration increased. The optical energy gap of Al2O3 doped ZnO thin films, measured from transmittance spectra could be controlled between (3.32eV and 3.59eV) by adjusting alumina concentration. AFM results show that the samples with increasing concentration of Al2O3, the surface roughness increases

جرى ترسيب اغشية اوكسيد الخارصين المطعمة بالالومينا على قواعد الكوارتز بتقنية الترسيب 532 ) و امد نبضة nm) بالليزر باستخدام ليزر النيدميوم-ياك النبضي العامل بالطول الموجي .(7ns) 0-5% )و wt) تم دراسة الخصائص البصرية و التركبية للاغشية المحضرة كدالة لنسبة تطعيم 0.4 ).اظهرت انماط حيود اشعة اكس J/cm) بدرجة حرارة 400 درجة مئوية وكثافة طاقة التركيب السداسي لاوكسيد في حبيباته للاهداف المطعمة و الغير مطعمة و تبلور عالي . اما بالنسبة للخصائص البصرية و التي تبينت من خلال اخذ طيف النفاذية,فكانت معدل330-900 ) اعلى من % 90 و زحزحة حافة nm) النفاذية للاغشية كلها ضمن ا لمدى الطيفي الامتصاص باتجاه الاطوال الموجية القصيرة بزيادة تركيز الالومينا. وحسب فجوة الطاقة من 3.32-3.59 ) من خلال تغير تركيز الالومينا.وقد eV) خلال طيف النفاذية وكانت تتراوح بين اظهرت نتائج مجهر القوى الذري زيادة الخشونة بزيادة تركيزنسبة الالومينا الى اوكسيد الخارصين .

Keywords


Article
Design Bragg Reflectors Consisting of Quarter-Wave Stack and Impedance Matching Concept
تصمیم عاكس براك المتكون من كومة بربع طول موجى وفكرة موائمة الممانعة

Authors: Adawiya J.Haidar --- Kassim S.Kassim --- Gailan H. Abdullah
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2010 Volume: 28 Issue: 20 Pages: 6001-6009
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

The control of the group delay and group delay dispersion in the design ofchirped mirror is difficult. To reduce this difficult it is important to adopt what isso called impedance matching design. This paper presents a design of quart wavemirror which includes the impedance matching. The design is divided into twostages. In the first stage a quarter waves stack to provide high reflectivity ofover a bandwidth of the design and within certain limits is considered.The control on average group delay depends upon wavelengths that are function ofpenetration depth. However, the group delay as a function of wavelength showsperiodic variations due to the impedance mismatch between the ambient mediumand the mirror surface and its layers. In the second stage of the design taperedBragg stack over a wavelength range (600-1100nm) is adopted as a single chirp.

م ن الص عب الس یطرة عل ى تاخرالمجموع ة وتش تت تاخرالمجموع ة ف ى تص میم مرای االسقس قة لتقلی ل ھ ذه الص عوبة یج ب ان یمل ك التص میم خاص یة موائم ة الممانع ة. یق دم ھ ذا البح ثتصمیم لمرایا بربع طول موجى والتى تتضمن موائمة الممانعة بتذبذب واطىء. ان تصمیم السقسقة0 ضمن عرض / یقسم الى مرحلتین. . الاولى ھى مرایا بسیطة تزودنا بانعكاسیة عالیة اكبرمن 099ألحزمة لموجة ألتصمیم. تعتمد السیطرة على مع دل تاخرالمجموع ة عل ى الاط وال الموجی ة والت ىھى بدورھا دالة لعمق الاختراق. ان تاخر المجموعة كدالة للاطوال الموجیة یظھر تغیرات دوری ةناتجة عن عدم موائمة الممانعة بین الوسط المحیط وسطح المراة وطبقاتھا. اما بالنسبة للجزء الثانى1100 ن انومتر كسقس قة - من التصمیم یتكون من كومة براك المستدقة لمدى الاطوال الموجی ة 600مفتردة

Keywords


Article
Doping Effect on the Structural Properties of Zno: Al2O3 Thin Films by Pulsed Laser Deposition

Authors: Adawiya J.Haidar --- Nadir F. Habubi --- Ali A. Yousif
Journal: Al-Nahrain Journal of Science مجلة النهرين للعلوم ISSN: (print)26635453,(online)26635461 Year: 2011 Volume: 14 Issue: 4 Pages: 73-80
Publisher: Al-Nahrain University جامعة النهرين

Loading...
Loading...
Abstract

Polycrystalline Alumina-doped Zinc Oxide (AZO) thin films on glass substrates have been deposited by pulsed laser deposition technique using pulsed Nd-YAG laser with wavelength (λ= 532 nm) and duration (7ns). The structural properties of these films were characterized as a function of Al2O3 content (1 w.t%, 3 w.t% and 5 w.t %) in the target at substrate temperatures (200°C and 400°C) and energy fluence (0.4 J/cm2). The X-ray diffraction patterns and scanning electron microscopy (SEM) for the films showed that the undoped and Al2O3-doped ZnO films exhibit hexagonal wurtzite crystal structure and high polycrystalline quality with a preferred orientation along (100) plane. The grain size increases as the Al2O3 concentration increases to 85.6 nm. The surface morphology of the films obtained by scanning electron microscopy reveals that presence of Al2O3 content in the structure did affect the surface morphology of the films significantly.

في هذا البحث، تم ترسيب أغشية اوكسيد الزنك المشوب بالالومينا ((AZO ذو تركيب متعدد البلورات، تم ترسيبها على قواعد من الزجاج باستخدام تقنية ترسيب بالليزر النبضي، حيث استخدام ليزر النيديميوم- ياك عند الطول الموجي (532 نانومتر) وآمد نبضة ( 7 نانو ثانية). تم دراسة الخصائص التركيبية كدالة لتركيز الالومينا بنسب (% 1 ,% 3 و % 5) في الهدف عند درجة حرارة القاعدة (200°C and 400°C) وكثافة طاقة الليزر الساقطة (0.4 J/cm2). اظهرت نتأئج حيود الاشعة السينية وفحص المجهر الالكتروني (SEM) بالنسبة للاغشية الغير المشوبه والمشوبه بأنها ذات تركيب سداسي متعدد التبلور وباتجاه مفضل غلى طول المستوي (100). ان حجم الحبيبات يزداد بزيادة تركيز الالومينا الى (85.6 نانومتر). ان التركيب السطحي الذي حصلنا عليه من فحص المجهر الالكتروني بالنسبة للاغشية المشوب الالومينا كان له تأثير على تركيب الاغشية بشكل واضح.


Article
Effects of Mg Concentration of MgxZn1-XO Nanostructure Thin Films by PLD on Optical and Topographical Properties
دراسة تاثير محتوى المغنسيوم في اغشية MgxZn1-xO على الخصائص البصرية والطوبوغرافية

Authors: Ali J.Addie --- Jehan A.Saimon --- Adawiya J.Haidar
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2013 Volume: 31 Issue: 7 Part (B) Scientific Pages: 846-858
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

In this work, MgxZn1-xO thin films were synthesized by pulsed laser deposition technique, the morphology and optical properties of MgxZn1-xO films were characterized by Atomic force microscopy (AFM) and UV-VIS spectroscopy. The MgxZn1-xO films have been deposited on sapphire substrates with different Mg contents (x= 0, 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.6, 0.8, 1), using double frequency Q-switching Nd:YAG laser (532nm), repetition rate (6 Hz) and a pulse duration of (7 ns).The present of hexagonal and cubic structure of MgxZn1-xO thin films was shown from X-ray diffraction measurement. The optical transmission results show that the transparency of the MgxZn1-xO films are greater than 85% in the visible region which increases with the increasing of Mg content. The absorption can be extended to lower wavelength range with higher magnesium contents, which can improve the transparency in the ultraviolet wavelength range. The band gap energy was found to be changed to the higher energy side with the increasing of Mg concentration. By changing Mg content from x=0 to x=1, the optical band gap of MgxZn1-xO films can be tuned from 3.4 eV to 5.9 eV, while the refractive index decreases from (1.96 – 1.75) as Mg-content increases from (0 to 1) at constant wavelength 400nm. This provides an excellent opportunity for bandgap engineering for optoelectronic applications. It is found from the AFM studies that the surface roughness of the films decreases with increasing the Mg content and the smallest grain size (33.8nm) with Mg content (1).

الهدف من البحث هو تحضير اغشية رقيقة من اوكسيد الخارصين - مغنيسيوم (MgxZn1-xO ) باستخدام تقنية الترسيب بالليزر النبضي ودراسة الخصائص التركيبية باستخدام مجهر القوى الذرية، بالاضافة الى دراسة الخصائص البصرية لتلك الاغشية (طيف النفاذية المرئي وفوق البنفسجي).جرى دراسة نمو الاغشية عند درجة حرارة 300°C على قواعد الالومينا وكثافة طاقة الليزر الساقطة 1.6 J/cm2 وباختلاف محتوى المغنيسيوم (x= 0, 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.6, 0.8, 1)باستعمال ليزر النيديميوم- ياك الذي يعمل بتقنية عامل النوعية عند الطول الموجي 532nm بمعدل تكرارية ((6Hz . وضحت قياسات حيود الاشعة السينية وجود التركيب السداسي والمكعب لاغشية .MgxZn1-xO كانت نتائج النفاذية البصرية اعلى من 85% لاغشية اوكسيد الخارصين مغنيسيوم بالمنطقة المرئية من الطيف وتزداد بازدياد محتوى المغنيسيوم. كما يمتد الامتصاص باتجاه الاطوال الموجية الاقصر عند محتوى المغنيسيوم الاعلى مما يحسن من مقدار النفاذية عند الاطوال الموجية الفوق البنفسجية. وجد تغير فجوة الطاقة لاغشية اوكسيد الخارصين مغنيسيوم المرسبة على قواعد الالومينا باتجاه الطاقات الاعلى بزيادة تركيز المغنيسيوم. اذ تتغير فجوة الطاقة البصرية من 3.4 الى 5.9 الكترون فولت عند تغيير محتوى المغنيسيوم من 0 الى 1 , بينما يقل معامل الانكسار من 1.96- 1.75 عند ثبوت الطول الموجي (400) نانومتر، كما لوحظ تأثير مثبط للمغنيسيوم على نمو الحبيبات في الاغشية المحضرة.

Listing 1 - 5 of 5
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (5)


Language

English (5)


Year
From To Submit

2013 (1)

2011 (1)

2010 (2)

2009 (1)