research centers


Search results: Found 1

Listing 1 - 1 of 1
Sort by

Article
Spectroscopic and structural studies of cadmium oxide thin films prepared by D.C magnetron sputtering
الدراسات الطيفية والتركيبية لاغشية أوكسيد الكادميوم الرقيقة المحضرة بطريقة الترذيذ المغناطيسي بالتيار المستمر

Loading...
Loading...
Abstract

Cadmium oxide thin films were prepared by D.C magnetron plasma sputtering using different voltages (700, 800, 900, 1000, 1100 and 1200) Volt. The Cadmium oxide structural properties using XRD analysis for just a voltage of 1200 volt at room temperature after annealing in different temperatures (523 and 623) K were studied .The results show that the films prepared at room temperature have some peaks belong to cadmium element along the directions (002), (100), (102) and (103) while the other peaks along the directions of (111), (200) and (222) belong to cadmium oxide. Annealed samples display only cadmium oxide peaks. Also, the spectroscopic properties of plasma diagnostic for CdO thin films were determined and the results show that the electron temperature and electron density increase with increasing of sputtered voltage.

تم تحضير أغشية اوكسيد الكادميوم الرقيقة بطريقة الترذيذ المغناطيسي بالتيار المستمر بأستخدام فولتيات ترسيب مختلفة V(700, 800, 900, 1000, 1100, 1200) حيث درست الخصائص التركيبية باستخدام تحليل حيود الاشعة السينية (XRD) عند فولتية الترسيب V(1200) فقط في درجة حرارة الغرفة وبعد التلدين في درجات حرارة مختلفة K(523, 623) وبينت النتائج أن الاغشية المحضرة في درجة حرارة الغرفة فيها قمم تنتمي الى عنصر الكادميوم على طول الاتجاهات للمستويات (002), (100), (102) و (103) وقمم أخرى تنتمي الى أوكسيد الكادميوم على طول الاتجاهات للمستويات (111), (200) و (222) كذلك تم تشخيص البلازما من خلال تحديد الخصائص الطيفية لاغشية اوكسيد الكادميوم الرقيقة وبينت النتائج أن درجة الحرارة والكثافة العددية للألكترونات تزداد بزيادة فولتية الترسيب.

Listing 1 - 1 of 1
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (1)


Language

English (1)


Year
From To Submit

2018 (1)