research centers


Search results: Found 1

Listing 1 - 1 of 1
Sort by

Article
Data Acquisition of TiO2 for Optical Material by using Spectroscopic Ellipsometry Technique
الحصول على البيانات من TiO2 لمواد بصرية باستخدام تقنيات التحليل الطبقي لمنظومة الاليبسوميتري(Ellipsometry)

Author: Asad Sabih Mohammad Raouf
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2010 Volume: 28 Issue: 20 Pages: 6128-6139
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

An Ellipsometric experimental set up of SOPRA ES4G type with a powerfulWVASE software for the theoretical calculus of the Ellipsometry parameters. TheEllipsometry Technique can determine amplitude and phase information Ψ( and Δ)dependent on wavelength range 250 nm to 900 nm (1.5 - 5 eV), including originalpractical solutions, were developed. Encouraging results of TiO2 were obtained inapplying the simple Ellipsometric method of azimuths to determine the opticalconstants for TiO2 with this optoelectronic device.

المختبرية (Ellipsometric) بأستخدام منظومة سطح القطع الناقص الأليبسوميتريوالتي تمتلك خلال أستخدام برنامجها الخاص والمسمى SOPRA ES4G الجاهزة ذو النوعEllipsometry لحساب التفاضل والتكامل النظري للمعاملات الأليبسوميتريه WVASEتحديد قياسات معلومات السعة (Ellipsometric) ويمكن لتقنية الأليبسوميتري .(parameters)5 اليكترون - 900 نانوميتر ( 1,5 - ضمن مدى طول موجي يتراوح بين 250 (Δ و Ψ) والطورفولت) وعلى اساس هذه المعلومات قد تم تطوير حلول عملية. أن نتائج البحث كانت مشجعةوتم الحصول عليها من خلال تطبيق الأسلوب البسيط لسطح TiO ومرضية لثنائي أوكسيد التتانيوم 2من السمت لتحديد الثوابت البصرية لثاني (Ellipsometric) القطع الناقص باستخدام الألبسوميتريوالمسمى ( optoelectronic device ) مع هذا الجهاز الأليكتون- بصري TiO أوكسيد التتانيوم 2. (Ellipsometric ) بالأليبسوميتري

Listing 1 - 1 of 1
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (1)


Language

English (1)


Year
From To Submit

2010 (1)