research centers


Search results: Found 8

Listing 1 - 8 of 8
Sort by

Article
Physical Properties of Cdo Thin Films Prepared by Spray Pyrolysis Technique
الخصائص الفيزيائية لغشاء اوكسيد الكادميوم الرقيق المحضر بطريقة الرش الكيميائي

Author: Douaa sulayman Jbaier
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2013 Volume: 31 Issue: 2 Part (B) Scientific Pages: 185-193
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

In this paper CdO films of 3.8 μm thickness were deposited onto glass and Si-wafer substrates by spray pyrolysis technique at 250oC temperature. The structure, optical and electrical properties were investigated. The structure of the films were studied by X-ray diffraction have polycrystalline structure with (111) preferential orientation. The films have good transmittances in visible and NIRregion, with direct optical band gap (2.5eV).The electrical conductivity was measured as function of temperature and theactivation energy was about(0.155and 0.241) eV.The electrical characterization of CdO/Si hetrojunction diode was investigated by current –voltage studied.The reverse current strongly increased with illumination intensity and voltage bias.

في هذا البحث تم ترسيب اغشية اوكسيد الكادميوم بسمك 3.8 مايكرومتر على قواعد الزجاج والسيليكون بطريقة الرش الكيميائي عند درجة حرارة 250 درجة سيليزية . واختبرت الخصائص البصرية التركيبية والكهربائية للاغشية المحضرة اذ اظهرت الدراسة بأن الغشاء يمتلك نفاذية جيدة عند المنطقة المرئية والمنطقة تحت الحمراء القريبة وانه يمتلك فجوة طاقة Eg = 2.5 eV . وقد قيست التوصيلية الكهربائية كدالة لدرجة الحرارة وتبين انها تمتلك طاقتي تنشيط 0.155 eVو0.241 eV واختبرت الخصائص الكهربائية لثنائي الوصلة الهجين CdO/Si من قياس خصائص تيار – جهد وجد ان تيار الاضاءة يزداد بقوة مع شدة الاضاءة الساقطة وجهد الانحياز.


Article
Influence of substrates on the properties of cerium -doped CdO nanocrystalline thin films
تأثير قواعد الترسيب على خصائص اغشية اوكسيد الكادميوم النانوية CdO الرقيقة المشوبة بالسيريوم Ce

Loading...
Loading...
Abstract

Transparent thin films of CdO:Ce has been deposited on to glass and silicon substrates by spray pyrolysis technique for various concentrations of cerium (2, 4, and 6 Vol.%). CdO:Ce films were characterized using different techniques such as X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy(AFM) and optical properties. XRD analysis show that CdO films exhibit cubic crystal structure with (1 1 1) preferred orientation and the intensity of the peak increases with increasing's of Ce contain when deposited films on glass substrate, while for silicon substrate, the intensity of peaks decreases, the results reveal that the grain size of the prepared thin film is approximately (73.75-109.88) nm various with increased of cerium content. With a surface roughness of (0.871–16.2) nm as well as root mean square of (1.06-19.7) nm for glass substrate, while for silicon (84.79-107.48) nm, for a pure CdO and doped with Ce (2, 4, and 6 Vol.%). The 300-nm-thin CdO films showed that the optical energy band gap equal 2.6 eV, and increases with increasing doping until reaches a maximum value of 3.25 eV when doping levels 6 Vol.%.

تم ترسيب الاغشية الرقيقة الشفافة لـ CdO المشوبة بالسيريوم Ce على قواعد الزجاج والسيليكون بتقنية التحلل الكيميائي الحراري, وبنسب التشويب مختلفة مع السيريوم وكانت 2, 4, and 6 Vol.%)). تم التعرف على خصائص الاغشية باستخدام تقنية حيود الأشعة السينية (XRD) ومجهر القوى الذرية (AFM) وكذلك الخصائص البصرية. وبينت فحوصات حيود الاشعة السينية ان اغشية اوكسيد الكادميوم تمتلك تركيب بلوري مكعبي وباتجاه مفضل (111), وان شدة القمم تزداد مع زيادة تركيز السيريوم عند الترسيب على قواعد الزجاج, اما في حالة الترسيب على قواعد السليكون فان شدة القمم تقل. ومن خلال فحوصات مجهر القوى الذرية في حالة الترسيب على قواعد الزجاج وجد ان الحجم الحبيبي للأغشية المحضرة هي (73.75-109.88) nm, وان الخشونة السطحية هي تقريبا (0.871–16.2) nm وان (RMS) هو (1.06-19.7) nm, اما في حالة الترسيب على قواعد السيليكون تبين ان الحجم الحبيبي هو (84.79-107.48) nm للاغشية النقية والمشوبة. بينت الفحوصات البصرية ان الاغشية ذات سمك (300 nm) وتمتلك فجوة طاقة بصرية ((2.6 eV وان هذه القيمة تزداد مع زيادة نسب التشويب لتصل الى اعظم قيمة لها (3.25 eV) عند نسبة تشويب 6 Vol.%.


Article
Influence of Substrate Temperature On Optical Properties of CdO Thin Films

Authors: Gailan Asad Kazem --- Ziad Tariq Khodair --- Mustafa Husam Saeed
Journal: journal of the college of basic education مجلة كلية التربية الاساسية ISSN: 18157467(print) 27068536(online) Year: 2012 Volume: 18 Issue: 73 / ملحق Pages: 135-146
Publisher: Al-Mustansyriah University الجامعة المستنصرية

Loading...
Loading...
Abstract

CdO thin films have been prepared utilizing chemical spray pyrolysis technique. Absorbance and transmittance spectra have been recorded in order to study the reflectance, kind of transition ,extinction coefficient refractive index and dielectric Constant in real and imagery parts, all as a function of substrate temperature. It was found that all the investigated parameters affect by Substrate temperature.

حضرت أغشية رقيقة من اوكسيد الكادميوم باستخدام تقنية التحلل الكيميائي الحراري. سجل طيف الامتصاصية والنفاذية وذلك لغرض دراسة الانعكاسية, نوع الانتقال, معامل الخمود, معامل الانكسار وثابت العزل بجزئه الحقيقي والخيالي . كل هذه المعلمات كدالة لدرجة حرارة الأساس. لقد وجد بأن جميع المعلمات قيد الدراسة قد تأثرت بدرجة حرارة الأساس.


Article
Effect of Thickness to the Structure Properties of CdO Thin Films

Author: Hadia Kadhim J.Al-Ogili
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2011 Volume: 29 Issue: 8 Pages: 1536-1544
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

In this paper CdO thin films were prepared by using chemical bath depositionmethod. Three different thicknesses of CdO films (84.1nm, 165.1nm, 194.23nm) wereused .x-ray diffraction technique has confirmed the formation of cadmium oxide,where reveals the changes in films structure with thickness increase. Many structuralproperties and constants have been studied and calculated by using the formation fromXRD patterns and ASTM chart such as grain size, FWHM, integral breadth, shapefactor, texture coefficient, and number of layers .These structural constants wereplotted as a function of the films thicknesses. The results indicate that the high grainsize (21.557nm) which was calculated for crystalline plane (111) was corresponding tothe high film thickness (194.23nm), while larger number of layer obtained for the filmthickness 165.2nm.


Article
Study on the Effect of Annealing on Structural and SensingProperties of CdO Thin Films for (CO2 ,H2S) Gases
دراسة تأثیر التلدین على الخصائص التركیبیة والتحسسیة لأغشیة CdO للغازات (CO2 ,H2S )

Authors: Hayder Mohammed Ajeel --- Shatha Shammon Batros --- Ashwaq Abdul Hussin Jabor --- Karamh Abd Ali
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2012 Volume: 30 Issue: 19 Pages: 3410-3420
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

Cadmium oxide (CdO) thin films have been deposited by Successive IonicLayer Adsorption and Reaction (SILAR) method by using cadmium acetate atconcentration 0.03 M and based solution from ammonium hydroxide on glasssubstrate. The structural and sensing properties of the as -deposited and annealedfilms are studied in details. The XRD and AFM analysis for its structuralcharacteristic has been preformed .The average grain size of deposited film areincreased after annealing . The sensing properties also are calculated and it isfound that the sensitivity are increasing after annealing, and for CO2 gas arebetter than the sensitivity for H2S gas . The I-V properties are calculated for thefilms before and after annealing for the two gases.

باس تخدام طریق ة الطبق ة CdO تم في ھذا البحث ترسیب أغشیة رقیق ة م ن اوكس ید الك ادمیومعلى قواعد زجاجیة باس تخدام خ لات الك ادمیوم وبمولاری ة (SILAR) الأیونیة المتعاقبة التكتفیة0.03 م ولاري م ع محل ول م ن ھیدروكس ید الامونی وم .الخص ائص التركیبی ة والتحسس یة للاغش یةAFM وفحص مجھر القوى الذریة XRD المرسبھ والملدنة تم دراستھا . حیود الاشعة السینیةت م تشخیص ھا ، مع دل الحج م الحبیب ي للاغش یة ازداد بع د التل دین . الخص ائص التحسس یة ایض احسبت وقد وجد ان التحسسیة تزداد بعد التلدین لغاز ثاني اوكسید الكاربون اكثر من تحسسیة غ ازكبریتید الھیدروجین . خصائص الفولتیة –تیار حسبت للاغشیة قبل وبعد التلدین للغازین.


Article
Optical and Structural Properties of Cdo Thin Film
الخصائص البصريه والتركيبه لغشاء CdO الرقيق

Authors: Azhar I. Hassan --- Khawla S. khashan --- Aseel A. Hadi
Journal: Engineering and Technology Journal مجلة الهندسة والتكنولوجيا ISSN: 16816900 24120758 Year: 2013 Volume: 31 Issue: 5 Part (B) Scientific Pages: 613-620
Publisher: University of Technology الجامعة التكنولوجية

Loading...
Loading...
Abstract

Cadmium oxide thin film has been synthesized using spray pyrolysis method. The structural and optical properties of the film were study by usingX-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), Atomic Force microscope (AFM), and UV- VIS spectroscopy. Result show that the film has spherical shape grain with size (460nm) and band gap (2.49eV). Moreover, the RMS equal to 58.7 nm.

تم انتاج غشاء اوكسيد الكادميوم باستخدام طريقة الرش الكيميائي الحراري. درست الخصائص التركيبة والبصرية باستخدام حيود الاشعة السينية و المجهر الالكتروني الماسح و مجهر القوى الذرية ومطياف الاشعة المرئية – فوق البنفسجية. وضحت النتائج ان الغشاء يمتلك حبيبات كروية ذات حجم حبيبي 460 nm و فجوة الطاقة . 2.49 eVبالاضافة الى ذلك RMS تساوي 58.7 nm.


Article
Effect of concentrations ratios of NiO on the efficiency of solar cell for (CdO)1-x(NiO)x thin films
تأثير نسب تراكيز أوكسيد النيكل على كفاءة الخلية الشمسية لاغشية أوكسيد الكادميوم المشوبة بأوكسيد النيكل بدرجة حرارة الغرفة ودرجة 723 كلفن

Authors: Suaad Khafory سعاد غفوري --- Kadhim A. Aadim كاظم عبد الواحد عادم --- Ghasaq Ali غسق علي
Journal: Iraqi Journal of Physics المجلة العراقية للفيزياء ISSN: 20704003 Year: 2017 Volume: 15 Issue: 33 Pages: 63-70
Publisher: Baghdad University جامعة بغداد

Loading...
Loading...
Abstract

CdO:NiO/Si solar cell film was fabricated via deposition of CdO:NiO in different concentrations 1%, 3%, and 5% for NiO thin films in R.T and 723K, on n-type silicon substrate with approximately 200 nm thickness using pulse laser deposition. CdO:NiO/n-Si solar cell photovoltaic properties were examined under 60 mW/cm2 intensity illumination. The highest efficiency of the solar cell is 2.4% when the NiO concentration is 0.05 at 723K.

تم ترسيب اغشية أوكسيد الكادميوم المشوبة باوكسيد النيكل على قواعد من السيليكون من النوع السالب بتقنية الليزر النبضي، تم حساب سمك الغشاء لتراكيز معينة هي 1%،3%،5% من أوكسيد النيكل لدرجة حرارة الغرفة ودرجة 723 كلفن، وجد 200 نانومتر وتم قياس أيضا كفاءة الخلية تحت شدة ضوء مقدارها 60 ملي واط/سم2، وتم إيجاد اعلى كفاءة للخلية الشمسية هي 2.4% عند تركيز 0.05لاوكسيد النيكل في درجة 723 كلفن.


Article
Structural and photoluminescence properties of CdO doped TiO2 thin films prepared by pulsed laser deposition
الخصائص التركيبية والاستضائية لاغشية اوكسيد التيتانيوم المطعمة باوكسيد الكادميوم المحضرة بواسطة الترسيب بالليزر النبضي

Authors: Ghusson H. Mohammed غصون حميد محمد --- Ahmed M. Savory أحمد محمد علي سفوري
Journal: Iraqi Journal of Physics المجلة العراقية للفيزياء ISSN: 20704003 Year: 2015 Volume: 13 Issue: 28 Pages: 82-90
Publisher: Baghdad University جامعة بغداد

Loading...
Loading...
Abstract

TiO2 thin films have been deposited at different concentration of CdO of (x= 0.0, 0.05, 0.1, 0.15 and 0.2) Wt. % onto glass substrates by pulsed laser deposition technique (PLD) using Nd-YAG laser with λ=1064nm, energy=800mJ and number of shots=500. The thickness of the film was 200nm. The films were annealed to different annealing (423 and 523) k. The effect of annealing temperatures and concentration of CdO on the structural and photoluminescence (PL) properties were investigated. X-ray diffraction (XRD) results reveals that the deposited TiO2(1-x)CdOx thin films were polycrystalline with tetragonal structure and many peaks were appeared at (110), (101), (111) and (211) planes with preferred orientation along 2Ɵ around 27.30. The results of photoluminescence (PL) emission show that there are two peaks positioned are around 320 nm and 400 nm for predominated peak and 620 nm and 680 nm for the small peaks.

تم ترسيب اغشية أوكسيد التيتانيوم الرقيقة المطعمة بأوكسيد الكادميوم بنسب وزنية مختلفة من اوكسيد الكادميوم (x= 0.0, 0.05, 0.1, 0.15 ,0.2) على ارضيات زجاجية بواسطة تقنية الترسيب بالليزر النبضي باستخدام ليزر النديموم – ياك ذي الطول الموجي 1064 نانومتر وطاقة مقدارها 800 ملي جول وعدد ضربات 500 وكان سمك الغشاء الرقيق 200 نانومتر، كما تم تلدين الاغشية حرارياً في درجات تلدين مختلفة (423، 523) كلفن. تم دراسة تأثير التلدين ونسبة التطعيم بأوكسيد الكادميوم على الخواص التركيبية والاستضائية للاغشية ، بينت نتائج فحوصات الاشعة السينية ان الاغشية المرسب متعددةالبلورات تركيب سداسي مع ظهور عدة قمم تظهر عند اسطح الانعكاس (110), (101), (111) و (211) حيث كان افضل اتجاه على طول الزاوية 27.3 درجة. أظهرت نتائج انبعاث الاستضائية ان هناللك قمتين مابين الطول الموجي 320 نانومتر الى 400 نانومتر للقمة العظمى ومابين 620 نانومتر الى 680 نانومتر للقمة الصغرى.

Listing 1 - 8 of 8
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (8)


Language

English (7)

Arabic (1)


Year
From To Submit

2018 (1)

2017 (1)

2015 (1)

2013 (2)

2012 (2)

More...